top of page

Optik ve XRF Ayırıcılar

Mineraller için Sensör Bazlı Sınıflandırma


CCD Kamera yardımıyla mineral rengine göre sınıflandırma;


Temel Prensipleri;

  • Renklerin, renk/malzeme açısından öğretilerek sınıflandırılması

  • Malzemenin eğimli yüzeyinin genişliğine veya hızlanma bandına sürekli olarak beslenmesi

  • Serbest düşüşte malzeme taraması (tek veya çift taraflı)

  • Önceden yüklenmiş sınıflandırma parametresine göre malzeme ayırma

  • İstenen materyalin sınıflandırma programına göre yüksek hızlı mıknatıs valfleri ile fırlatılması

Sınıflandırma;

  • Renge göre

  • Şeffaflık ve parlaklığa göre

  • Boyut ve şekle göre

REDWAWE - Döküş Sistemi

Tek veya Çift Kamera


REDWAWE - Döküş Sistemi

Temel Özellikleri

  • Tek veya çift taraflı tarama

  • Sınıflandırma genişliği, 1300 / 2000 mm

  • 300 mm’ye kadar tane boyutu

  • 3 CCD kamera – 3200 Pixel / Renk sınıflandırması

  • 6000 Hz’e kadar tarama oranı

  • 16 M renk çeşitliliği

  • Aydınlatma Temizleme Sistemi

  • Saniyede 10.000 nesne

  • Windows 7 (64 Bit) tabanlı software

  • Uzaktan erişim

NIR (Near Infrared)’ın Temeli – Spectroscopy

NIR (Near Infrared)’ın Temeli – Spectroscopy

  • 800 nm – 2500 nm dalga boyu alanında kızılötesi ışık ile fiziksel analiz yöntemi.

  • Bir malzemenin elektromanyetik ışıması ile malzeme özel bir dalga boyu alanını emer.

  • Tanımlama bir referans spektrumuna göre yapılacaktır.

  • Bilinen malzemenin niceliksel tanımı için kullanılır.

Uygulama Alanları

  • NIR – Spectroscopy ile farklı jeolojik formasyonların mineral kompozisyonlarını tespit edebilirsiniz

  • Renk farkının olmadığı yerlerde; Örn: Kalsit / Dolomit / Manyezit / Talk / Kuvars / Feldispat / Spodumen

  • Material komposizyonuna göre sınıflandırma

REDWAVE - XRF Bant Sistemi

Uygulama Alanları

REDWAVE - XRF Bant Sistemi

XRF teknolojisi kullanılarak, cevherler ve mineraller, belirli elementlerin içeriğine göre sıralanabilir.

Elemental tanıma dayanarak istenmeyen içerikler tespit edilebilir ve bu tür parçalar girişte ayrılabilir.

Elemental Kompozisyona göre sıralama


Özellikleri

  • 450 – 1300 mm sınıflandırma genişliği

  • Tane boyutu 6 – 120 mm

  • Yüksek hassasiyetli detektörler

  • Çok hızlı elemental analiz

  • Çok yönlü kullanım

REDWAVE - XRF Bant Sistemi










 

Detaylı bilgi ve iletişim için "Proje Departmanı" ile iletişime geçebilirsiniz.

 

İLGİLİ ÜRÜNLER


Kömür Hazırlama ve Yıkama Tesisleri




Kireç Üretim Tesisleri



Comments


bottom of page